用于热处理应用和CO2应用中的水分的光学水分仪。XTDL-HT™设计有一个新的专有光学采样系统，用于热处理应用中的脏污气体，导致其他分析仪损坏，读数漂移和测量，不能被信任的许多客户报告30后多年的业务。
Xentaur水分测定仪型号XTDL-HT™是基于物理科学公司基于GasScan™TDLAS技术的新型专有光学算法设计的。所有光学和样品系统组件设计用于处理粗糙毛毯中的高微粒水平气体环境。TDLAS技术可快速，准确和可靠地测量覆盖层气体的水分，从而提高在各种热处理工艺中控制零件表面光洁度的能力。XTDL-HT™维护少，可以在现场进行清洁，无需进行光学对准。
产品特点：
高对比度显示。
可选择的图形输出。
反应快。
现场校准。
六个不同的工程单位。
实时压力和温度校正。
产品规格：
精度：+/- 2%
测量范围：1000-25000ppm H2O
-20.2 to 20.9°C Dew Point
压力范围：Operating: 0-30psiA
温度范围：Operating: -20 to 65°C
显示：超高对比度图形。
产品型号：XTDL-HT™。
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